產(chǎn)品分類
輪廓/膜厚測(cè)量
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原子力顯微鏡可進(jìn)行高精度的粗糙度、臺(tái)階高度及微納米級(jí)別三維輪廓等測(cè)量,同時(shí)可以測(cè)量相位、電場(chǎng)、磁場(chǎng)、導(dǎo)電力等其他各種高級(jí)物理量。
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